每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成(薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开)，两侧放置z厚薄片的2倍厚度的校准块，每组线对卡里面的金属片组间隔为2.5mm。

主要用于测试X射线机的高分辨率。

先jin的微米技术实现了具有 16 种不同宽度（3 至 50μm）的高精度线对分辨率测试卡。 当今，微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸，而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。

JIMA（日本检测仪器制造商协会）致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。